日本理学波长色散X射线荧光光谱仪

 

　　日本理学波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus IV采用上照射设计，再不用担心污染光路，清理麻烦和增加清理时间等问题。集合所有ZSX系列的优点：双真空系统，自动真空控制，mapping/微区分析，超轻元素强灵敏度和自动芯线清洗等。ZSX PrimusIV可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管，保证轻元素分析灵敏度。mapping包可以检测同质性和夹杂物。ZSX Primus IV*具备迎接21世纪实验室挑战。

　　日本理学波长色散X射线荧光光谱仪是一种用于分析物质组成的仪器。它的原理基于X射线的特性和样品中元素的能级结构。

　　当X射线照射到样品上时，样品中的原子会吸收X射线能量，使得原子内部的电子跃迁到高能级。随后，这些高能级的电子会以荧光的形式返回到低能级，并放出特定能量的X射线。这些特定能量的X射线称为特征X射线。

　　波长色散X射线荧光光谱仪利用了特征X射线的波长差异来分析样品中的元素。它包含一个入射光束，它将白色X射线分散成不同波长的X射线。然后，样品被放置在入射光束中，特征X射线会被样品吸收和发射。

　　光谱仪中的探测器可以测量并记录特征X射线的强度和波长。通过比较样品中特征X射线的波长和已知元素的特征X射线的波长，可以确定样品中存在的元素及其相对丰度。

　　总结起来，日本理学波长色散X射线荧光光谱仪利用样品中元素的特征X射线的波长差异来分析样品的成分。

　　二、分析范围：

　　Be-U较小的占地面积微区分析上照设计30μm超薄窗Mapping:元素分布He密封:样品室一直在真空环境中

　　Rigaku ZSX Primus IV是一种管式以上的连续波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪，可以快速定量测定铍(Be)到铀(U)中的主要和次要原子元素，样本类型-以最di标准。

　　新的ZSX指导专家系统XRF软件

　　ZSX指导为XRF测量和数据分析的各个方面提供支持。准确的分析只能由专家进行吗？不-那是过去。ZSX Guidance软件具有内置的XRF专业知识和熟练的专家知识，可以处理复杂的设置。操作员只需输入有关样品，分析组分和标准组成的基本信息。具有最小重叠，最佳背景和校正参数(包括线重叠)的测量线可以借助质谱自动设置。

　　三、轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越

　　ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有良好的性能和分析最复杂样品的灵活性，采用30微米的管子，这是较薄的终端窗口管，可提供出色的轻元素(低Z)检测限。

　　映射和多点XRF分析

　　结合测绘包装来检测均匀性和包裹体，ZSX Primus IV可以对样品进行简单详细的XRF光谱测量研究，以提供其他分析方法不易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。

　　四、使用EZ-scan软件的SQX基本参数

　　EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下对未知样品进行XRF元素分析。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件，它可以提供最准确，最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应，包括线重叠。SQX还可以校正光电子(光和超轻元素)，不同气氛，杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完mei的扫描分析程序可以提高准确度。

　　五、特征：

　　1、从Be到U的元素分析

　　2、ZSX指导专家系统软件

　　3、数字多通道分析仪(D-MCA)

　　4、EZ分析界面进行常规测量

　　5、管道上方的光学器件使污染问题最小化

　　6、占地面积小，使用的实验室空间有限

　　7、微量分析可分析小至500μm的样品

　　8、30μ管提供卓yue的轻元素性能

　　9、映射功能的元素地形/分布

　　10、氦气密封意味着光学器件始终处于真空状态

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